- 测定非金属材料中的层厚度、层数、缺陷、气泡或隐藏特征。
- 获取先前提到的所有内容的可视图像,这在许多情况下代表着非常重要的信息。
- 在不接触、即时甚至穿过产品上游的屏障的情况下,获得物质的吸收光谱或光谱指纹。
Irys是一种无接触系统,它使用das-Nano开发的太赫兹波和专有算法,以非破坏性的方式提供汽车车身每个涂层的厚度测量。
Onyx是市场上第一个旨在提供对石墨烯、薄膜和其他2D材料进行全面非破坏性表征检测的系统。
Notus实现了对风能和航天工业所用复合材料上面的每层涂层的全层厚度测量和附着力控制的检测。
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