Onyx

用于大块体、薄膜和二维材料的太赫兹研究平台

市场上首个旨在提供全区域非破坏性表征的系统，包括：

Onyx 填补了宏观和纳米尺度工具之间的差距，对0.5 mm²至大面积（m²）进行表征，增强了研究材料的产业化。
与其他大面积方法（如四探针法）相比，墨石能够测量样品质量的空间分布。空间分辨率在几百微米的数量级上，能够快速表征大面积样品，与拉曼、扫描电镜和透射电镜等显微方法相比。

das-Nano在太赫兹技术、人工智能和纳米技术等不同技术领域拥有19项专利。其中，12项专利明确保护了在太赫兹技术领域进行的创新。
Onyx System 符合国际电工委员会（IEC）发布的IEC TS 62607-6-10:2021技术规范。IEC TS 62607-6-10:2021规范涉及使用太赫兹时域光谱法测量基于石墨烯材料的片阻抗。

更新并改进其功能

Onyx 不断改进其功能，提供新的结果，极大地增强了其潜力。现在，它的4.0版本在之前的功能基础上增加了两个新的特征模型：半导体薄膜模型和双厚度基底模型。这些新功能扩展了系统的多样性，并使其成为研究更广泛材料的理想平台。

仅需一次测量，该系统能够精确提供以下物理性质：

Onyx 在GRACE项目中

开发未来石墨烯电子的电学表征方法

das-Nano 参与了GRACE欧洲项目（EMPIR-EURAMET计划），开发了未来石墨烯电子的电学表征方法，例如墨石设备使用的太赫兹技术。

项目中发表了一份关于使用非接触和高通量方法对石墨烯进行电学表征的良好实践指南。

特点

均匀性和一致性检查
电导和电阻
电迁移率和载流子密度
对整个样品的质量控制
与Fraunhofer研究所共同开发的T-Wave发射器/接收器
样品尺寸：从1x1mm to 200x200mm (8”)
可定制的检测区域（高达m²）

无损分析
极快速 - 12 cm²/分钟
高清光学摄像头
单面检查
无需样品准备
三轴自动定位系统
坚固的全铝机身

经过测试的材料包括

技术规格

主要供电单元

收发器头

三轴定位系统

Playlist

6 Videos

Onyx - Demo

9:54

WEBINAR - ONYX Research platform for non-destructive electrical and physical characterization

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25:37

Onyx - Graphene and 2D Materials Inspection

Onyx - Graphene and 2D Materials Inspection

1:21

Onyx - Elements and unique features

Onyx - Elements and unique features

2:36

Onyx - Applications and materials

Onyx - Applications and materials

2:09

Onyx - Covering the gap and principle of operation

Onyx - Covering the gap and principle of operation

2:25

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