与其他大面积方法（如四探针法，破坏性和接触性）相比，Onyx可以测量样品的质量，为每个电学特性提供完整的表面地图。 几百微米的空间分辨率可以快速表征大样品面积，与拉曼、扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）等显微方法不同。