全区域无损石墨烯电学特性表征检测

您是否需要快速、非破坏性地测量电学特性和2D材料?

您是否需要一个无接触的系统,能够测量样品质量的空间分布情况?

使用das-Nano Onyx解决方案,您可以实现对整个石墨烯区域的非破坏性电学特性表征,以及更多!

diseño circular grapheno

它是如何工作的?

Onyx是市场上第一个专为提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全区域非破坏性表征而设计的系统。填补了宏观和纳米尺度工具之间的差距,从0.5 mm²到大面积(m²)进行表征,提高了材料研究的工业化水平。

与其他大面积方法(如四探针法,破坏性和接触性)相比,Onyx可以测量样品的质量,为每个电学特性提供完整的表面地图。 几百微米的空间分辨率可以快速表征大样品面积,与拉曼、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)等显微方法不同。

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